JC T7 NAND del dispositivo della prova modulo per iPhone 6S / 6SP / 7 / 7P Logic scheda di riparazione
JC T7 NAND del dispositivo della prova modulo è professionale 2-IN-1 iPhone NAND / strumento di riparazione logicboard, iPhone 7 / 7P NAND del dispositivo della prova mudule viene utilizzato per testare lo stato NAND Flash (Buona o cattiva), può anche essere utilizzato per reinstallare / Re-Flash / Re-store sistema di iOS su iPhone 7 / 7P madre, Aggiornamento firmware, e lavarsi i iPhone 8 8P scheda logica, ottenere il codice di errore di iTunes.
caratteristica:
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Per la prova dello stato di NAND Flash (Buona o cattiva)
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Usare con JC C1 intelligente riparare casella, Nessuna batteria di bisogno.
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Lettura / scrittura / modifica / Chip NAND / Aggiornamento del firmware per questo apparecchio Test Tool,Spazzolatura iPhone 6S / 6SP / 7 / 7P
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design di base ultrasottile
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T7 Supporto per iPhone6S / 6SP / 7 / 7P
Il pacchetto include:
1 x dispositivo della prova
1 x Cavo smart C1
