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JC T7 NAND del dispositivo della prova modulo per iPhone 6S / 6SP / 7 / 7P logicboard riparazione

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Per la prova dello stato di NAND Flash (Buona o cattiva)
Usare con JC C1 intelligente riparare casella, Nessuna batteria di bisogno.
Lettura / scrittura / modifica / Chip NAND / Aggiornamento del firmware per questo apparecchio Test Tool,Spazzolatura iPhone 8 / 8p
design di base ultrasottile
T7 Supporto per iPhone 7 / 7P

inchiesta

specificazioni

JC T7 NAND del dispositivo della prova modulo per iPhone 6S / 6SP / 7 / 7P Logic scheda di riparazione

JC T7 NAND del dispositivo della prova modulo è professionale 2-IN-1 iPhone NAND / strumento di riparazione logicboard, iPhone 7 / 7P NAND del dispositivo della prova mudule viene utilizzato per testare lo stato NAND Flash (Buona o cattiva), può anche essere utilizzato per reinstallare / Re-Flash / Re-store sistema di iOS su iPhone 7 / 7P madre, Aggiornamento firmware, e lavarsi i iPhone 8 8P scheda logica, ottenere il codice di errore di iTunes.

caratteristica:

Per la prova dello stato di NAND Flash (Buona o cattiva)
Usare con JC C1 intelligente riparare casella, Nessuna batteria di bisogno.
Lettura / scrittura / modifica / Chip NAND / Aggiornamento del firmware per questo apparecchio Test Tool,Spazzolatura iPhone 6S / 6SP / 7 / 7P
design di base ultrasottile
T7 Supporto per iPhone6S / 6SP / 7 / 7P

Il pacchetto include:

1 x dispositivo della prova

1 x Cavo smart C1