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Appareil de test de puce

» Appareil de test de puce

JC iPhone 6 / 6P / 6S / 6SP EEPROM Baseband puce non Outil de suppression de réparation

CATÉGORIE ET ​​TAGS:
Appareil de test de puce

--Modèle: JC BE-6SP

--La description: JC BE-6SP est pour la réparation iPhone 6 6P 6S 6SP Baseband puce EEPROM sans avoir à retirer la puce de la carte principale.

--Lecture / Sauvegarde / gravez sur des informations EEPROM IC en 1 seconde.

--Soutien: iPhone 6 / 6P / 6S / 6SP

--Il fonctionne sur JC PRO1000S.

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–Modèle: JC BE-6SP

–La description: JC BE-6SP est pour la réparation iPhone 6 6P 6S 6SP Baseband puce EEPROM sans avoir à retirer la puce de la carte principale.

–Lecture / Sauvegarde / gravez sur des informations EEPROM IC en 1 seconde.

–Soutien: iPhone 6 / 6P / 6S / 6SP

–Il fonctionne sur JC PRO1000S.

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